PSE 短絡開放試験に関して

質問

PSEのIEC-J60335-1(家庭用電気機器)　短絡開放試験で、電子部品の短絡がありますが、
試験条件で「集積回路以外の電子部品の任意の２端子間の短絡」とあります。
この場合、OPアンプは集積回路ですが、このIC端子間の短絡試験は必要ないのでしょうか？
専門的で申し訳ありませんが、詳しい方、宜しくお願いします。

回答No.2

bogen55 · ベストアンサー

J60335-1を読むと
---------------------(引用開始)---------------------
19.11.2 次の故障状態を想定し、必要に応じて、一度に１故障を起こさせる。この場合、引続いて起きる故障も加味する。
ａ） 略
ｂ） 各部品端子部の開放。
ｃ） 略
ｄ） 集積回路以外の電子部品の任意の２端子間の短絡、この故障状態は２つの回路間のオプトカプラには適用しない。
ｅ） 略
ｆ） 集積回路の故障。この場合、その部品が正しく機能しなくても、安全性に悪影響を及ぼさないことを確かめるために、危険に結び付くと考えられるあらゆる状況を調べる。
---------------------(引用終了)---------------------
ｆ）に集積回路の故障が載っています。
最大限解釈すれば、単純な任意の２端子間の短絡だけでなく、内部のあらゆる故障についても安全性に悪影響を及ぼさないことを確かめる必要があると読めます。
当然「単純な任意の２端子間の短絡」が絶対に起きないという理由を示せないときは、行うべきでしょう。

安全規格の問題は、シロート解釈で試験しても落ちるとまた、数10万円～数100万円余分に費用がかかるから、コンサルタントに指導を仰いだ方が良いです。
コンサルタントは、認定機関に相談すれば紹介して戴けます。

お礼

大変有難う御座いました。
確かに安全だと言えない場合は、テストすべきでしょうね。
ただ、基本は、任意の２端子間とは1つ素子の両端を指すと専門家にお聞きしたことがあります。つまり集積回路は複数素子の集まりですから、その場合は対象にならないためｄ）の「集積回路以外」との文言があるのだと思います。
しかし、デジタル集積回路素子であれば、任意の２端子間を短絡したところで、素子が破壊されても問題にならないため除外されていると推察すると、アナログ集積回路素子ではそうはいかないので、対象かどうか悩んでいました。
と言うことで、やはり専門家に確認を取ることに致します。

回答No.1

info222_

ICの出力端子をアース（GND）または電源端子と短絡すると壊れる、破壊試験にいなりますので、ＩＣの短絡試験は行えません。つまり短絡試験は不要です。

補足

確認ですが、通常PSEの短絡開放試験は、部品の破損によるショート、オープンを想定したもので、この場合に基板上の全部品やパターン、配線等が破壊や破損しても人体に影響がないかを調べるものです。
この点を踏まえて、OPアンプを含む集積回路はこの試験の対象外とのことでしょうか？