高分子のX線解析について

質問

今読んでいる高分子の論文に小角X線散乱（SAXS）と広角X線回折（WAXD)での測定が出てきます。
２種類のポリマーを溶融ブレンドさせ改質しよう、という論文なのですが、何しろ、英語の論文を訳しながら読んでいるため、まったく意味が掴めません。
結晶やら非晶やらラメラやら、言葉としては色々出てくるのですが…。
結局、SAXSとWAXDは、物質の何を調べるために測定しているのでしょうか。
お勧めの参考文献やHPでも良いので、お願いします。

回答No.1

zyakkaru

すべてを信用するのは危険ですけど、概略はつかめるのではないでしょうか？

X線小角散乱（Xせんしょうかくさんらん、small angle X-ray scattering）とは、X線を物質に照射して散乱する X線のうち、散乱角が小さいものを測定することにより物質の構造情報を得る手法である。略して SAXS ということも多い。あるいは、X線の小角度の散乱（小角散乱）の現象のことを指す。

X線の散乱を、角度によって分類した場合、小角散乱と広角散乱（回折）とに大別される。どの程度の散乱角度から小角散乱というかは場合によって異なるが、通常は10度以下の場合をいう。広角散乱を利用する分析法（X線回折）が結晶中の原子配列のようなオングストロームオーダーの分析に使用されるのに対し、小角散乱法では微粒子や液晶、合金の内部構造といった数ナノメートルレベルでの規則構造の分析に用いる。

小角散乱法では、入射光に非常に近い位置での測定を行うため、精密な光学系と、場合によっては強力なX線源が必要となる。SPring-8などの放射光を利用することも多い。

参考URL：

http://ja.wikipedia.org/wiki/X%E7%B7%9A%E5%B0%8F%E8%A7%92%E6%95%A3%E4%B9%B1

お礼

ウィキペディア、見落としてました…。ありがとうございます。
X線小角散乱については、本当によくわかりました。
しかし、内部構造の分析といっても、高分子では具体的に何を調べるのでしょうか…。結晶構造なんですかね？