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Siロッドの直径制御
半導体で主な結晶成長法に関して Siロッドの直径制御に使用される2つのパラメータは何か教えてください。
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CZ法は、融液から引き上げる方法ですね。 この場合も確か種結晶は回転させながら引き上げますね。 引き上げ速度と回転速度が重要でしょう。 とりあえず参考になりそうなところで http://www.tocera.co.jp/jpn/products/wafer/crystal.html http://www.jpo.go.jp/shiryou/s_sonota/hyoujun_gijutsu/semicon_vacuum_tech/1_1_1a.htm PDFファイルですが、 http://www.toshiba.co.jp/tech/review/2004/07/59_07pdf/rd01.pdf といったところでいかがでしょうか。
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- myeyesonly
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回答No.1
こんにちは。 フローティングゾーン法ならば、加熱体の移動速度と結晶棒の回転速度だと思います。
お礼
回答ありがとうございます。 CZ法の場合はどうなるのでしょうか? 解りましたら宜しくお願いいたします。 参考となるホームページがありましたら教えて下さい。