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x線回折結果について

X線回折結果のピークの半値幅から得られる情報とはどのようなものなのでしょうか?なぜ幅が変わるのかについて教えていただきたいです。宜しくお願いします

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回答No.1

(格子欠陥や不純物等による格子の乱れがない)理想的な結晶と(完全な単色X線を用いる等々の)理想的な測定装置であれば、回折パターンはブラッグの条件に合致した角度にのみ現れ半値幅は理想的には0となるはずだと思います。 ということは、逆にいえば半値幅がある値を持つのは上記の理想的な条件から外れているからだと考えられます。一般的には装置的な要因よりは結晶構造起因(格子定数の乱れ)のほうが多いはずですが.... 極端に格子定数がズレた(半値幅が極めて大きい)例としては、アモルファスの回折ピークに現れるハローがあります。

azumaximum
質問者

お礼

有難うございます。つまり、結晶構造に乱れが生じた為に生じる幅ということですね。分かりやすくて助かりました。有難うございます。

その他の回答 (1)

  • ojin
  • ベストアンサー率43% (280/638)
回答No.2

全くの想像です。 No.1氏のおっしゃるとおりですが、特性X線源が全くの平行光線であれば半値幅は存在しないと思いますが。試料からX線源を見た場合、X銭管球の陽極で発生するX銭は、4Π空間に発生し、試料に照射しますが、スリットを通して並行X銭を取り出して試料に当てますが、ある程度の発散角を持ってしまうと思います。したがって、試料面では、ある程度の幅でX銭が照射されることになり、試料に照射するX銭の回折角度にも幅を持ってしまうこと、試料作成が不完全な場合が、半値幅の原因の一つで、さらに、特性X銭のKαと、Kβ(分離できない)の合成であることも更なる原因だと想像されます。更に、試料面での散乱X銭も考えられると思います。蛍光X銭分析の場合のように、試料に直接X線を照射し、2次X線(蛍光X銭)をソーラスリットで並行光線にし、更に、単結晶で分光する方法であれば、半値幅は、より小さくなるものと推測されます。 もう、ずーと、ずーと昔の記憶です、考えに根本的な誤りがあるかも知れません。もし、そう思われたらこのアドバイスは無視してください。

azumaximum
質問者

お礼

お礼を申し上げるのが遅れまして大変失礼しました。私自身検査する試料にばかり目がいっていたのでX線装置の方が原因で半値幅に差が生じるとは思っていませんでした。なるほど」そういう事なんですね。有難うございました。

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