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反強磁性の磁化率は
温度上昇に伴い増大して, ネ-ル温度になると温度上昇につれて減少するのはわかります. 測定条件でZFC(零磁場冷却)とFC(磁場中冷却)があると思いますが, それぞれの磁化率はどのような挙動を示すのですか? FCでは強制的にスピンの向きを揃えているので 絶対零度付近でも磁化がありネ-ル温度まではほぼ一定の値で推移して, ネ-ル温度で磁化率が減少し始めるようなイメージがあるのですが, どうなのでしょうか? こんなかんじで. ____________ | | | | ネール | ↓ | |_________________
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- hagiwara_m
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どのような測定を行うかを明確にする必要があると思います。 まず、言われている「磁化率」は、"試料の磁化/印加磁場" の意味ですか。 また、FCやZFCは冷却時の磁場のかけ方の分類ですが、関連する測定量として、 (1) ZFCの後に、磁場をかけ温度を上げながら測った磁化 (2) FC過程で(温度を下げながら)測った磁化 (3) FCの後、印加磁場をゼロにして、温度を上げながら測った磁化 などがあります。どれを問題にされているのでしょう。 反強磁性のスピンフロップのことはご存知でしょうか。これに照らしどの程度の大きさ磁場を印加するかで、話が変わってきます。 スピン構造とは別スケールのランダムネス(クラスター構造やドメイン構造)を考えるのでしょうか。(FCとZFCの差には、このようなファクターが大きく関与します)