X線回折による結晶の観察について
X線を物質に当てると電子がX線と同じ振動数で揺すられて入射X線と同じ振動数の電磁波を出し、これが多くの電子に対して起こり波長が同じなので干渉し合うというのが回折ですよね。
そこで質問ですが、この回折は何による光（電磁波）と何による光で起こった回折現象なんでしょうか。使っている参考書だと入射X線が散乱、散乱、と散乱という言葉が繰り返されているのですが、電子に衝突して散乱されて波長が長くなった（コンプトン散乱）X線同士が干渉して、強め合った点がラウエ法の実験で回折点となっているのですか？それとも電子が揺すられた事によって放射された電磁波同士が干渉しているのですか？（散乱X線-散乱X線なのか、電子からの放射電磁波-放射電磁波なのかという意味です）
後もう１つ質問したいのですが、X線での背面ラウエ法でどうして方位などが分かるのでしょうか。光の回折実験のように試料からイメージングプレートまでの距離とラウエ斑点の並び方や斑点の間隔から、試料の原子間距離（格子面間隔）は解析できるような気はするのですが、実際はそうではなく結晶の対称性や方位まで分かってしまうのが理解できません。試料原子の並び方や逆格子ベクトルの向きからそこに回折点が現れるのはまだ良いのですが、晶帯や斑点から方位や回転対称が求まるのかが何度本を読んでもイマイチ掴めないです。
どなたか丁寧にご教授お願いします。
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