X線回折分析で測定できない場合

質問

ｘ回折分析を行う場合、光源の波長の長さがλ＝1.240Åの場合、
1.240マクロメーターになりますよね。
という事は、もしも結晶の粒子サイズが非常に小さい場合はピークはでないのでしょうか？
非結晶質の場合は出ないことはわかったのですが、結晶質でも出ない場合があるのでしょうか？

回答No.2

noname#21649

＞という事は、
の前の内容が理解不能。

＞結晶の粒子サイズが非常に小さい場合はピークはでないのでしょうか？
「でない」ことはないのですが．非常に検出が困難になります。ある程度大きさならば０．２度／秒なんて高速でスキャンできますけど．結晶が極端に小さくなる（りゅうかい付近の結晶の乱れの影響が強くなる）と．散乱が強くなって．ブローになるので．スキャンをかなり低速にする必要があります。すると．サチッて検出できなくなったりします。微分をとれば何とかなるのですが．計算が面倒です。

＞結晶質でも出ない場合
格子定数にばらつきがある粘土鉱物では．結晶といっても範囲にばらつきがあり．いくつかの面が出ない場合があります。りゅうけいが大きい場合に．試料作成でへんなはいこう性が現れ．いくつかのピークか消える場合があります。結晶水を含む資料の場合や大気中の何かと反応する場合等は．スキャン中に乾燥して．変質してしまいピークが出ない場合があります。

お礼

スキャンスピードを低速にすれば、高速で検出できない場合でも
測定する事が可能なんですね。
計算の方はちょっとできそうにないのでやめておきます。

回答No.1

oshiete_goo

＞1.240マクロメーター
？？
1μm=1×10^(-6)mより
λ＝1.240Å＝1.240×10^(-10)m=1.240×10^(-4) μm
だと，おおよそ原子1個の直径程度ですから，結晶質ならば程度の差こそあれ，事実上必ずピークができるといってよいのでは？

お礼

なるほど、原子一個の直径がその位の長さになるんですね。
だとしたら、結晶質ならばピークが出るはずですね。
ありがとうございました