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ゼーベック効果について
温度ごとに変化するゼーベック係数の計算の仕方がわかりません。 あるの物質の温度差、室温、起電力からゼーベック係数の出し方を 教えてほしいです。お願い致します。
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- siegmund
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siegmund です. TA-TB が δT になっているわけですね. No.2 の spinflip さんの回答で,TA-TB を十分小さくすることが 明示されていなかったので,No.3 のようにコメントしました. TA と TB が大きく違っていると,測定される S は TA ~ TB の間の S(T) を適当に平均した量になりますから. さて,2つの状況ですが本質的には同じことだと思います. つまり,δT あるいは ΔT を十分小さくしておいて, 対応する電位差を δT あるいは ΔT で割ったものがその温度での S(T) です. 所詮,直接測定するのは温度差と起電力ですから, 数値微分のようなことになるわけです. 単に割り算の結果を S(T) とするよりは, ΔT もスキャンしてΔT→0 を考える方がより正確であるのは spinflip さんのいわれるとおりです. μの話はこのスレッドに書くのは反則かなと思ったのですが, もしかしたら回答に気づいておられないのではないかと思って つい書いてしまいました.
- spinflip
- ベストアンサー率53% (28/52)
siegmundさん、お世話になります。 S(T)については周りで流行った(??)ことがあるので、 当時の私の理解と、周りで実際に測っていた人の話をそのまま 書いてしまいました。siegmundさんの説明を読んでだいぶ悩み ましたが、どうも、想定している測定状況が二人の間で異なる のではないか、と思い始めました。よろしくお願いいたします。 以下の説明で、Vは試料両端の電圧とします。 spinflip: (T)[試料](T+δT) δTは非常に小さくしておいて、かつ、大体一定の値にしておく。 Tをscanしながら、T, T+δT,V(T)を測定し、 S(T)=V(T)/δT と求める。 siegmundさん: (T)[試料](T+ΔT) まず、Tは固定して、ΔTをスキャンする。その結果から、 S(T)=∂V/∂ΔT と求め、Sの温度依存性は、Tを変えてまた測りなおす。 ということなのでしょうか。お手数おかけしましてすみませんが、 よろしくお願いいたします。 確かに、ΔTもスキャンして、ΔT→0の極限としてSを求めた 方が正確ですね。 (μの問題でも(さらに、他のいくつかの問題でも)大変お世話 になっております。向こうのボードに私の理解の状況を書いて 置きました。)
- siegmund
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siegmund です. ナイーブなゼーベック係数の定義は spinflip さんが書かれているとおりですが, 例えば 0℃-10℃ のときの起電力と 50℃-60℃ のときの起電力が違ったりします. これが結局 S の温度依存性になります. したがって,何度のときの S というなら,微分で定義するべきで, それが私の No.1 の解答です. 熱量と温度変化の比が熱容量と言うのがナイーブな定義ですが(つまり,C = Q/(T1-T2)), 熱容量は温度によって違ったりしますので, 通常 C = dQ/dT としているわけです. 今の場合も話は全く同様です. ところで,spinflip さん,μの話は?
- spinflip
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普通、ゼーベック係数は、試料に温度勾配をつけて (両端を異なる温度の熱浴に接触させてということ) 両端の起電力を測定します。 よって、両端の温度をTAとTBとすれば、 S=E/(TA-TB) となって、あくまで温度勾配に比例するのであって、 室温(試料の温度)は関係ないと思うのですが、、、、。
- siegmund
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熱起電力をE,絶対温度をT,としてゼーベック係数Sの定義は S = dE/dT ですから,データの数値微分あるいは差分からすぐSが求められます.