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信頼性試験の定義について
こんにちは。光学部品の設計開発に従事しているものです。信頼性試験における下記項目の明確な定義(各々の違い)につきまして、ご存知の方、もしくは本件について明確に説明されたHPなどをご存知の方がいらっしゃいましたら、ご教示願います。 (1)熱衝撃 (2)ヒートショック (3)ヒートサイクル ※私は今まで上記3つを同じものと考えておりました。 宜しくお願い致します。
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こんにちは。光学部品ではありませんが,電子部品のエンジニアです。 ヒートショックと熱衝撃は同じものですが,ヒートサイクルは異なる試験方法です。違いは,高温側から低温側への移行時に,一定時間室温にするかどうか,です。 一定時間室温に保つものがヒートサイクル,室温で保たずにすぐに移行させるものがヒートショック/熱衝撃です。 試験条件(温度,時間)につきましては,部品により異なると思いますので,お調べいただくしかないと思います。光学部品についての詳細は存じ上げませんが,信頼性試験方法についての公的な規格があるはずです(基本的には,購入が必要だと思います)。 以上,不十分ですが,ご参考に。
お礼
ご回答ありがとうございます。ヒートサイクルとヒートショックが室温を介するか否かであること、参考になりました。