cpk1.33以下でも合格？

質問

ある海外の車載専門半導体メーカーがファイナルテストの工程変更（設備移管）を行い、PPAP資料が提出されました。PPAPの項目のひとつに初期工程調査があり、変更前後でのCPKによる比較データが記載されています。資料をみると当然多くの項目は変更前後ともに1.66以上あるのですが、パラメーターによっては変更前後ともに1.33以下となっており、その項目のコメント欄には「Parameter is adjusted during testing, therefore limits are narrow.」や「Parameter guaranteed by testing with guard band. Sort　criteria. No Yield risk」などの記載があり、どうもこれらパラメーターは無視できるように思えます。この工程変更に対してメーカーは相関性があり、問題ないとの見解ですが、cpk1.33以下がある項目があるのに相関性がある言っている理由（変更前後でcpk1.33以下だから相関性があるという理屈はないはずです。）がわかりません。どなたかその理由を推測できますか？

回答No.3

noname#154447 · ベストアンサー

「テスティングの工程移管」に伴う評価なのだとしたら、工程移管の評価基準として「パラメータのCpkが１．３３以上」である必要は無いと思います。

半導体の電気的特性の評価で１．３３以下の値が出た場合、アラームを出す対象にすべき工程はテスティングでは無く半導体のウエハ・チップの製造工程ではないでしょうか。テスティングでは品質を作り込んでいないと思うのですが？

質問者さんが言っているのは
「腐った食べ物が出されてきた。お客さんの所へ出す前に毒味役が味見をして「これはマズイ」と言った。腐った食べ物が問題なのではなくこの毒味役が役目を果たしていない」
とさほど変わらないと思います。

テスティング工程以前に変化がなく、工程移管前後でCpkの値が変化しないのであれば、上のたとえを用いるのなら「以前の毒味役と比較しても今度の毒味役は遜色ない働きをしている」ことになると思うのですが…。

テスティングが製品を破壊・劣化させているという根拠があるのですか？仮にあるのであれば、「Ｃｐｋが該当テスティング装置着工品のみ低い。改善せよ」と言うべきであって、単純にＣｐｋ低い＝移管不可」とはならないと思います。

回答No.4

t-fujikawa

質問者様の言う、工程変更（設備移管）の相関性があるというのは、
移管前後が同じ測定結果である状態というですよね？

質問文にはCPKが1.33以下なのに、相関性があるとメーカーが言う理由が分からないとありますが、
移管前後でどちらも1.33以下であれば相関性はあるという事にないでしょうか？

それよりも、ここで問題となるのは、
CPKが1.33以下なのにコメント欄の記述により、メーカーがその点を無視している様だけども、
その理由は何でしょうか？という事ですよね？

その理由の答えとしては、英文から察するに、
「PATを採用しているから」というのが答えだと思います。

PATというのはPart Average Testの略なのですが、
デバイスの市場品質・信頼性を向上させるため、
製品スペックを満たしても他と特性が異なるチップは取り除く手法の事で、
測定結果を統計処理した結果、
平均値からある程度離れた測定結果のものは取り除くやり方です。

ここでメーカーが言っているのは、
その測定方法を採用している為、
NG品が増え工程能力指数は下がりますが、
製品スペック内に入っているものが多いので、
問題ありませんという事では無いでしょうか？

ただ、他の回答者様が言われる様に、
そもそも全数検査を行なっているであれば、
工程能力指数の数値は意味の無い情報だと思いますが、
単に「移設前と移設後の違いが無い」という相関性を証明する為のものとして、
考えればいいのでは無いでしょうか。

回答No.2

my3027

＞移設前後で同じ検査装置の相関性があることのデータとして消費電流などの各パラメーターをcpkで比較しています。
詳細が分からない為か、この点が私には分かりません。どうして相関性のチェックにCpkを使うの？です。Cpkの本来の目的は、規格幅に対してバラツキと平均値を考慮してどの位余裕があるかです。相関性を図るツールは相関係数やマハラノビス距離を使った検定になると思います。逆にCpkが同じであれば相関というか同じ工程だという意味なのでしょうか？それはCpkの定義の式からも違うと思いますが詳細が分からないので何ともいえません。

>ぜ移設前後のあるパラメーターがともに1.33以下という項目があるにもかかわらず、総合評価として合格（＝相関性あり）と言っているのか理屈がわかりません。いかがですか？やはり全数選別しているのであれば、cpkで比較すること自体あまり意味がないのでしょうか？
私は全数検査の場合、良品を受け取るという意味ではCpkは意味無いと思います。Cpkが低く、全数検査で歩留まりが悪い為部品代が高いので、Cpkを改善してコストダウンをしてくれという意味では意味があると思いますが・・・。

補足

私としてはCpkが同じであれば相関というか同じ工程だと思っています。
詳細がお伝えできず申し訳ございません。

そもそもお聞きしたかったことは、1台のテスト装置にはたくさんのテストパラメターがあります。移設前で、あるテストパラメーターがcpk1.33以下となっているのですが、これは工程能力が非常に低く、TSの規格からしたらそもそもNGの装置でないか？移設後もその同じパラメーターがcpk1.33以下となっており、移設後のNGの設備ではないかと思っております。しかしながら今回メーカーからは移設前後で相関はあり、設備としては量産できますと見解がきました。
そこで、cpkが低い項目があってもなぜ総合判定○になるかが理解できておりません。cpkによる移設前後の比較データが乗っていることから、このデータは相関性を示しているものだと思っているのですが、cpk1.33以下の項目もあり、この比較データそのものにも疑問を持っています。

回答No.1

my3027

＞この工程変更に対してメーカーは相関性があり、問題ないとの見解ですが、cpk1.33以下がある項目があるのに相関性がある言っている理由（変更前後でcpk1.33以下だから相関性があるという理屈はないはずです。）がわかりません。
この点が質問内容からは読み取れないのですが、回答からは選別らしきものを行う為問題無いと言っているのではないでしょうか？何の検査かわかりませんが、センサーか何かで全数選別すればCpkは関係ありません。というか、Cpkは正規分布している前提ですので、Cpkを計算しても意味が無いのですが。。。

補足

検査というのは半導体後工程の最終出荷試験になり全数選別しております。出力特性や消費電流など電気的特性を検査するのですが、その検査装置を違う工場へ移設する工程変更です。移設前後で同じ検査装置の相関性があることのデータとして消費電流などの各パラメーターをcpkで比較しています。あるパラメーターは正規分布の検査結果になっているため、cpkでも表記できているのだと思いますが、違うパラメーターはもともと正規分布になっていない検査結果になっているため、1.33以下で表記されているものだと思います。移設前後で、ともに1.33以下のパラメーターが数箇所あるにもかかわらず、総合評価としては、相関性ありとのメーカー評価に疑問があり、本来1.33以下の場合は合否判定では不合格の部類に入ると思っていることから、なぜ移設前後のあるパラメーターがともに1.33以下という項目があるにもかかわらず、総合評価として合格（＝相関性あり）と言っているのか理屈がわかりません。いかがですか？やはり全数選別しているのであれば、cpkで比較すること自体あまり意味がないのでしょうか？