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半導体の抵抗の接合面の断線の故障とは?
半導体の故障(不良)に関する文章を英訳しています。 その中で、「抵抗の接合面の断線」という要因が書かれているのですが、これがどういうものなのかご説明いただけないでしょうか。 「抵抗の接合面」は「オーミック接点」とは違いますか? よろしくお願い致します。
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お礼のお言葉をありがとうございました。 >>> 他の故障要因として、「結晶の欠陥による破壊」や「スイッチの 接触部の参加」などが挙げられています。 このことから、 sanori 様の解釈は裏付けられますか? そうですね。 結晶欠陥による破壊も、接触部の参加・・・ではなく酸化(笑)も、断線とは違う不良モードですから、 (=3つとも別々の不良モードですから) これら3つを列挙している文なのであれば、何ら矛盾は生じません。 ただ、 「スイッチの接触部の酸化」の「スイッチ」が何を意味しているのか、 私は全くわかりません。 では。
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- sanori
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こんにちは。一応、その関係の、元プロです。 「半導体」とありますが、おそらくLSIのことですよね。 「抵抗の接合面」というのは、業界における一般的な術語ではなく‘方言’です。 勝手に推測しますと、N領域かP領域の上に金属を接続させる接続孔のことを指しているのでしょう。 そして、接続孔において金属がちゃんとN領域かP領域にくっついていないということだと思います。 だとすれば、英訳する際は、「抵抗の」という日本語を消して、「接合面の」を「接合面における」に代えて訳して構わないと思います。 以上、ご参考になりましたら幸いです。
補足
早速のご回答をありがとうございます。この辺の技術については ど素人なので大変助かります。 他の故障要因として、「結晶の欠陥による破壊」や「スイッチの 接触部の参加」などが挙げられています。 このことから、 sanori 様の解釈は裏付けられますか? 最初からこの情報を含めるべきでした。申し訳ございません。 よろしくお願い致します。
お礼
どうもありがとうございました。 酸化ですね。お恥ずかしい。 経験者の方のご意見を伺うことができて本当によかったです。