X線回折について

質問

薄膜X線回折についての質問です。X線回折装置の測定法でout-of-plane測定、in-plane測定、極点測定、φ測定がありますが、それぞれどのような測定法でしょうか？特に極点測定について知りたいです。

回答No.1

chiezo2005 · ベストアンサー

X回折の本を読めば書いてありますが，ホームページだと
http://www.nsg-ntr.com/DATA/data1.htm
がわかりやすそうです。

極点測定は特定の結晶面が向いている方向分布調べる手法です。
測定方法としては，測定試料を少しずつ傾けて，通常のθ-2θ測定を行い，
全方位の回折データから解析します。

お礼

回答ありがとうございます。結晶がどの方向を向いているかわかるということはout-of-plane測定のようにピークがでてくるのでしょうか？授業ではout-of-planeのピークの１つに２θBを合わせてαを0～90°まで動かしたりしました。βは1°しか動かしていません。それと学校の装置は試料台が動かないようでしたが。

　ホームページとてもわかりやすくて参考になりました。薄膜X線回折の参考書でわかりやすいものは何かありますか？

　長文ですみませんが、よろしくお願いします。

回答No.3

wata717

薄膜については次の著書を参照して下さい．
合志監修：Ｘ線分析最前線(1998)アグネ技術センター
ISBN4-900041-63-7 C3043

お礼

回答ありがとうございます。参考にさせていただきます。

回答No.2

chiezo2005

測定した基板はなんでしょうか？
ガラスのような方向性のない材料の場合には面内方向には対称性から同じになるのが自明なので全方向調べる必要はないと思います。

X線回折の参考書ですが、目的によってだいぶ違うと思います。
詳しく知りたいのであれば、
http://www.amazon.co.jp/gp/product/4785324023
などがよいと思います。

もう少し応用的な側面であれば
http://bookweb.kinokuniya.co.jp/htm/4254145942.html
などはどうでしょう・・

お礼

回答ありがとうございます。測定した基板は、Si基板だったと思います。Si基板だとまた変わってくるのでしょうか？試料は有機物だったから、有機薄膜ということですね。

　参考書は、さっそく学校の図書館で探してみようと思います。