X線回折測定

質問

乾燥パスタの粉体X線回折測定を行ったところ、２θ＝８°から１２°付近に、フラットではなく盛り上がったピークが見られました。

パスタは、多少細かくしていますが、粒が大きい状態です。水分は、少なく１０％以下です。

　老化の影響でしょうか？もしくは、サンプルの大きさの問題でしょうか？

　低水分で老化は進行しにくいと考えられると思うので、この盛り上がったピークは何由来のピークなのか分からず、質問してしまいました。

　よろしくお願いします。

回答No.1

awakikoi

θー２θ法ですね。
結晶の格子結晶定数や面間隔を測れます。
８から１２degreeに現れているのは、
かなり大きな面間隔です。
X線の波長が解らないので、面間隔が計算できませんが、
フラットなのは、結晶ができていない証拠。
ピークは結晶の証拠。
盛り上がったピークは、広がりを持ったピークといえます。

ピーク幅は結晶粒子のサイズに関係してきます。
nmオーダーの結晶粒子だとそうようなピークの広がりが観測されます。
また、結晶が完全でなく、アモルファスに近いと
ピークはかなり広がってブロードなピークになります。