電子デバイス

質問

電子デバイスの質問です。
製品の信頼性評価(耐湿性試験）を行ったところ、外リード間がショートしました。
分析した結果、外リード間にSnがまたがっておりました。Snは外リードのメッキに使っているのですが、この不良のメカニズムわかる人いたらお願いいたします

回答No.2

ming3 · ベストアンサー

>製品の信頼性評価(耐湿性試験）を行ったところ、外リード間がショートしました。……外リード間にSnがまたがっておりました。

このような現象が初めてなのか、頻繁に発生するのか、また、耐湿試験ではどのような試験を行うか分かりませんが、試験中にリード間がショートしたのであれば、下記が考えられます。

★メッキ処理の不良でショートし易い状況になっていて試験中の作用でショートした。
★メッキ処理後メッキの破片が付着していて試験中の作用にショートした。
★耐湿試験がメッキを溶かす作用がある。

回答No.1

yamaichiro

エレクトロマイグレーションでしょう。
湿度が高い場合にはイオンマイグレーション
と言ったようにも。

参考URL：

http://www.semicon.toshiba.co.jp/prd/common/pdf/ch03.pdf