線吸収係数
GAXRD(Glancing Angle X-Ray Diffraction)を用いて材料表面の物性評価を行っています。入射角αを0.5°,1°,2°,5°,10°と変えてスパッタリングで作製したTiN膜(膜厚約1μm)のX線回折パターンをとっています。それぞれの入射角で測定したときのX線侵入深さを知りたいのですが、それはI=I0exp(-μx/ρ)(I0:ある物体を透過する前のX線の強度、I:ある物体を透過した後のX線の強度、μ:物体の線吸収係数、ρ:密度、x:X線が透過した厚さ)から物質測定深さを概算できると聞きました。しかし、TiNの線吸収係数をネットも含めていろいろ探してみたのですが、見当たりませんでした。どなたかご存知の方がいらっしゃいましたら、ご教授下さい。また、別の方法でX線侵入深さがわかる方法がありましたら、あわせて教えてください。