ダイオードの静特性 計測
ダイオードの静特性 計測
1s1588という型番のダイオードを使用して計算値、実験値と比較してみました。
まず、
I=Is*{exp(V/nVt)-1} [Vt=kT/q]
のショックレーのダイオード方程式に値を代入して計測してみたところ、
Is=10^-14[A] , n=1 (理想D) , Vt=0.0257[V](標準温度25℃) として、かつexp>>1より、 -1 の項を除去し、
I=10^-14 * (exp(V/0.0257)
として、Vを0.02[V]ずつ変化させて計算しました。
逆方向飽和電流Isの値は、下記URLのデータシートより確認しようとしたところ、どれを見て良いか分からず
http://www.madlabo.com/mad/book/device/1s1588.PDF
SPICEよりI=10^-14[A]という値を決定しました。
そして、実際に1s1588を使用して、計測したところ、大きく差がでてしまいました。
特に0.6[V]あたりからの値の変化の仕方が著しく異なり、
どちら側もいわゆるダイオードの静特性のグラフの形にはなっているのですが、0.8[V]などでの値の上がり方が大きく違い、
ショックレーの方程式で計算した結果では爆発的に上昇しているが、実験値では比べると非常に緩やかに上昇していきました。
一応測定グラフを貼り付けておきます。
【質問】
どうしてこのように方程式での計算値と実験値の値に大きな差が生じたのか原因が分かる方がいれば教えていただきたいです。
自分で考えた原因としてはやはりSPICEから引用したIsの値のとり方が間違えているのかと考えましたが、
データシートよりどのように値を決定すればよいかわかりません。
もし原因がそこに当てはまるということであれば、Isの値を教えてください。
また、原因がこれではなく他にあるなら、その原因というのも教えていただきたいです。
よろしくお願いします。
