STMについて勉強してるのですが

質問

ある本に、

「分子配列を制御することにより、新しい性質をもつ材料を形成することが、今後、電子デバイスへの応用の観点から重要になる。そのために、ＳＴＭで配列を原子レベルで測定することが必要になってくる」

と書いてあり、よくわかりませんでした。
どうして、ＳＴＭで配列を測定することが、新しいデバイスの開発につながるのでしょうか？

宜しくお願いします。

回答No.1

パんだ パンだ（@Josquin） · ベストアンサー

今までに使われてきた（研究されてきた）材料は、ある程度の大きさをもって初めてある性質を示すバルクな材料でした。こういうのものは、主にＸ線回折で結晶構造を調べればよかったわけです。
今後はバルク材料の表面だけだとか、分子数個とかのナノ材料が使われるようになるだろうと期待されており、結晶構造を調べるとかいう話ではなくなってくるわけです。

お礼

お返事ありがとうございます。
バルクと表面では物性に違うというのを聞いたことがあります。確かにＸ線だけではわからない構造についても研究する必要があるのですね。

回答No.2

sanori

その１（やさしい解説）
http://www.springer-tokyo.co.jp/science/02summer_essay4.htm

その２（第２章を読んでください）
http://www-e2.ele.eng.osaka-u.ac.jp/jp/conferences/b/reason.htm

２０年ぐらい前の「高温超伝導フィーバー」の頃、友人が大学の研究室で、超伝導物質の原子配列を、透過型電子顕微鏡で観察して、論文を書いてました。
しかしながら、透過型顕微鏡で得られる像は、二次元です。

ＳＴＭでは、より細かい観察ができる上、三次元の像を得ることもできます。

原子レベルで配列を制御して新デバイスを開発するためには、ＳＴＭで、その検証をするのが不可欠なんです。

今は昔（やはり２０年ぐらい前）、別の友人が、大学の研究室で、国内のＳＴＭ開発の走りの研究をしていました。
今では、ＳＴＭは、デバイス構造の観察の常套手段になっています。

お礼

お返事ありがとうございます。
何といっても、ＳＴＭの売りは原子レベルで凹凸がわかることですよね。最近ではＳＴＭよりＡＦＭの方が重宝されているみたいで・・・非接触のＡＦＭが開発されたら、ＳＴＭが必要なくなってしまうかもしれませんね。