分析装置について教えてください！

質問

二次イオン質量分析（SIMS）・蛍光X線分析・X線光電子分光法（XPS）オージェ電子分光法の原理、方法、どんな分野でどんな応用を、特徴、定性分析、定量分析、補正について教えてください。

回答No.4

KK_T

元素の分析に関して（表面分析関連？）知りたいようなのですが、私の知っている、蛍光Ｘ線に関して答えさせていただきます。
　蛍光Ｘ線は（ここにあげた）他の分析に対し、比較的バルクの分析が出来る元素分析装置です。色々な分野への応用が考えられますが、特に多いのは、無機物（鉄鋼やコンクリート）関係での定量が多いのでは無いでしょうか。
　昔は、波長分散型というタイプがほとんどだったので、前記のような分野だったのですが、最近は、エネルギー分散型も多くなり（卓上型のは大体そうです）、異物の分析や、石油中の硫黄の分析などにも結構使われるようになって来たようです。
・・・やはり、質問が抽象的なので、長くなってしまいますね。
yukittiさん、何か聞きたいことがあれば、書き込んで下さい。

回答No.3

noname#21649

丸善発行
日本化が区会
実験化学講座
機器分析（放射分析？）

あたりを適当に読めばわかりませんか。応用と補正以外は載っていますから。

回答No.2

chill

質問が漠然としすぎていて、答えにくいですね。関連があるとしたら、機器分析だということくらいですね。オージェとＸＰＳは表面分析で兄弟的関係だけど、ＳＩＭＳは表面分析といってもまったくちがうし。蛍光Ｘ線分析はバルク分析だし・・・。質問の目的を絞ってもらえませんか？

回答No.1

rei00

ご質問の意図は何でしょうか。二次イオン質量分析（SIMS），蛍光X線分析，X線光電子分光法（XPS），オージェ電子分光法の間に直接の関連はありませんが，試験対策か何かでしょうか。

　それでしたら，まづ分析化学の教科書などをご覧になって，もう少し具体的にご質問になった方が良いと思います。説明の程度にもよりますが，上記のものそれぞれで１冊の成書ができるぐらいの分量にもなります。

　いかがでしょうか。必要なら補足下さい。