超伝導のＸ線回折、中性子散乱について

質問

超伝導を中性子散乱等を用いて調べるといった手法があると聞いたのですが、これはつまり超伝導性を持つかどうかを調べる方法としてこの手法を用いるということでしょうか？
それとも中性子やＸ線を資料に照射することで物性を変化させるということでしょうか？(これは違うとは思うのですが・・・)
また、このような手法を使って超伝導性の有無を調べた場合、どのような結果を示すと超伝導性を持つといえるのでしょうか？
低温状態での電気抵抗率や完全反磁性を調べる以上の情報が得られるということなんでしょうか？

文章におかしな部分も多いと思いますが、ご回答よろしくお願いします。

回答No.1

アウストラロ ピテクス（@ngkdddjkk）

大学院で超伝導をかじっていたものです。

超伝導体の物性を調べる上で、電子の軌道等の電気伝導に関する事柄を調べる手法として取り入れられている気がしました。

フェルミ面を直接測定できる方法で中性子散乱を用いた方法であった気がします。

s波超伝導とd波超伝導では性質がことなり、ホールドープ型の高温超伝導体と低温超伝導の結果を比較したときに、たしかにフェルミ面が違うといった論文なり本で読んだ気がします。

あまり参考にならず、すみません。