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VSMによる磁気特性の補正
VSMでフェリ磁性の磁気特性を測定したのですが、時下が小さくて、基盤(ガラス)の反磁性成分が乗っています。その反磁性成分を補正したいのですが、ガラス分だけ引くだけじゃうまくいきません。どうしたらいいのでしょうか?
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VSMは使用したことがないのですが、SQUIDを使用したときの経験をもとに書きます。 1)フェリ磁性の物質の薄膜がガラスの上にのっている試料ということでいいですね。 この場合、フェリ磁性の薄膜がのってない状態のガラス基板の質量を厳密に測定しておく必要があります。 ちょっと軽くぶつけて、ガラスが少しでも欠けてたら大ごと。 2)薄膜がついている基板とまったく同じ形状、質量のガラスを用意して、反磁性磁化の値を測定する。実際にはまったく同じものはできないので、質量を比較して、比例配分で反磁性磁化の値を求める。 3)これで差をとれば、薄膜の磁化がでるはず。 ★)それと、試料を支えている試料ホルダーの反磁性成分もちゃんと引いてあげないと。
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- mdxht
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回答No.2
VSMって基板程の大きさの物でも測定できるんですね。 私もVSMで磁化特性を測定した事がありますがタバコのフィルター程の容器に結晶を入れて測定してました。
質問者
お礼
基板ていっても1cm角程度ですよ
お礼
有難うございました。やってみます。