屈折率と温度の関係

質問

屈折率の温度依存性について書かれた資料を探しています。心当たりのある方は教えていただけないでしょうか？

研究のテーマ：
基板上の薄膜の厚さを、さまざまな角度からの反射強度を測定する事によって決定する連続視野角方式を用いた研究(以下に述べます)を行おうとしています。
温度が異なるとき（室温～100℃程度を想定）、屈折率や膨張の度合いのわずかな変化によって反射強度が変化するものと考えています。その変化量から温度を測定するというものです。

回答No.1

nzw

どのような基板上の、どのような薄膜を測定されようと
しているか開示された方が、適切な回答が得られる可能性
が高まります。開示をご検討ください。

たとえば、Siに関するものであれば、
H. A. Weakliem and D. Redfield, J. Appl. Phys., vol. 50, p.1491 (1979)
などがあります。また、原典不明ながら、
http://www.ioffe.rssi.ru/SVA/NSM/Semicond/Si/optic.html
にSiのｎの温度依存性の式が挙げられています。（波長
すら書いていませんが。。。）

その他の論文については、私の別の回答を参考に検索して
みてください。

http://oshiete1.goo.ne.jp/kotaeru.php3?q=2031072

http://oshiete1.goo.ne.jp/kotaeru.php3?q=2007284