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x線 回析

格子定数a=0.155nmのsc,bcc,fcc構造をもつ資料に波長λ=0.1nmのx線を当てた。その時のx線回折の結果を検討するやり方を教えて下さい。 (100)(110)(111)(200)(210)(211)(220)(221)の結晶面のブラッグ角θをそれぞれ結晶構造に対して求めて比較するそうなんですけど、わかりません

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回答No.1

使用記号 d 結晶面間隔 θ ブラッグ角(結晶面とX線が成す角度) λ X線の波長(=0.1nm) a 格子定数(=0.155nm) h, k, l ミラー指数 (hkl)=(100), (110), (111), (200), (210), (211), (220), (221) n =1,2,3… ブラッグの定理より 2d sinθ = nλ …(1) また立方晶の面間隔dは以下の式により示される 1/d^2 = (h^2 + k^2 + l^2) / a^2 …(2) ブラッグ角θは式(1)と式(2)から求めてください。 次に 単純立方格子(sc)では全ての結晶面に於いてピークが出ます。 体心立方格子(bcc)ではh + k + lが偶数の時ピークが出ます。 面心立方格子(fcc)ではh, k, lが全て奇数、または偶数の時ピークが出ます。 bccでh+k+lが奇数の時やfccでh,k,lに偶数奇数が混在している場合は、互いにうち消し合う二つの位相が存在するためピークは出ません。これを消滅則といいます。 ということで良いですかね?

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