#4さんあたりの回答で良いかと思います。
２端子間の内部抵抗を測るのに、多少の電圧を加え、電流を流してその比から抵抗を求めるのですが、純粋な抵抗なら、
●テスターの端子の接続を入れ替えても抵抗値が変わらない。
●テスターが加える電圧と電流の大小に関係しない。
ということです。
内部に純粋な抵抗以外の素子を含んでいるという事です。
例えば
ダイオードやトランジスター（PN接合素子を含む半導体素子）
順方向印加電圧0.3V以下の低電圧の非道通領域で高抵抗、
順方向0.7V以上の導通領域で低抵抗、
逆方向で高抵抗
を示します。
アナログテスタでは、印加電圧が大きく、順方向印加電圧で導通領域になり導通電流が流れ、低抵抗を示す。
しかし、
デジタルテスターでは、順方向印加電圧が小さく、導通領域に至らず、導通電流も少なく抵抗値が大きくなる。
といったことが起こります。
また、測定端子A,Bに接続する、電極棒（クリップ）を入れ替えても、半導体素子が含まれている場合は抵抗値は変わります。
電極棒（接続クリップ）をA,Bの接続を逆にすると、短絡しているか、いないかが分かります。完全な短絡なら端子の接続を逆にしても、短絡時の指示値（殆どゼロΩ、配線抵抗やテスターの誤差のため殆どゼロ）になります。また、完全な短絡ならアナログテスター、デジタルテスターとも、端子の接続入れ替えしても、短絡時の指示値（殆どゼロ）になります。
アナログテスターとデジタルテスターの測定方式による差の3Ω/100Ωは半導体のPN接合（バイポーラー接合部）が測定端子間に含まれていることによるものですね。テスターの電極を入れ替えてみれば、はっきりするでしょう（逆方向では高抵抗を示す）。
