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XPSについて教えてください。
どうもこんにちは。初めて質問します。 今XPSについていろいろ調べています。 XPSの結果を見ると”atom %”が示してあります。 これは"relative area"から求められているのですが、 この"relative area"とは何なのでしょうか? そして"area"とどう違うのでしょうか? ぜひ教えてください。
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XPSはX線光電子分光法の略で、ESCAという呼び方もありますので、 こちらでも調べてみてください。 さて、実際に装置で分析をしてみたことがありますでしょうか? XPSは名前の通り、試料にX線をあて、出てきた電子のエネルギーを 調べます。 X線のエネルギー - 電子のエネルギー = その電子が飛び出してくるのに必要なエネルギー ということで、それがわかれば、元素がわかるし、その量の割合がわかれば、 各元素の比”atom %”がわかる訳です。 ただ、同じ量のX線をあてても、出てくる電子の量は違います。これを補正するのが、 Sensitivity Factorで、分析装置のPCの中にデータが入っているはずです。 それから、もともと微量だったり、電子の出にくい元素の場合、強度が弱くなるので、 分析回数を増やしたりします。 まず、生データは横軸エネルギーで縦軸は強度ですよね。この面積が"area"。 これに分析回数などの分析条件を考慮に入れる必要があります。 例えば、強度が弱いから他の元素の10倍の回数分析すれば、実際はareaを10で 割ってやる必要があるということです。そして、それにSensitivity Factorを 掛けた(割った?)ものが、"relative area"。そして、その"relative area" から”atom %”が計算されるのです。 以上
お礼
補正を考慮にいれて計算されたものが "relative area"というわけですね。 これからSensitivity Factorについて 調べてみようと思います。 回答ありがとうございました。