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SEPP-OCLパワーアンプのDC漏れ電圧の削減法
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回答No.11に補足させて下さい。hfe極限の2SC458段ゲインとして 1 /( 2 * hib1 + 500 ) * 8.2k * 2 を提示しましたが、hfe 30 ともなりますと120kΩ、39kΩ+91kΩ の寄与が甚大です。ゲインはこの電圧降下を含め、 1 /( 2 * hib1 + 500 + ( 120k + 39k + 91k )/hfe ) * 8.2k * 2 と記述する方が明瞭でしょう。ゲインは2倍程度で、2SA562段の hfe が低く82Ωとの積が8.2kΩを目減りさせればさらにゲインは落ちます。2SA562段のベース電流 8.2kΩ 積の電圧アンバランス寄与が初段で薄まりません。 回答No.10に記しました「2SC458の左右バイアス抵抗を 1/10 の値にするとか、2SC458をダーリントン接続にして置換するとか、もっとhfeの高い種類のトランジスタに替えるとか」は初段ゲインを確保し状況を一変させると考えているのです。
その他の回答 (11)
ある時点での0点は500Ω半固定抵抗で調整できているのですから時間による変動は二段の差動アンプの温度変化によるということになるんじゃないですか。1段目と2段目のトランジスタは製作時に増幅率が近い物を選別したのでしょう。その上で、各段のトランジスタのペアの温度が等しくなるように接着剤で貼り合わせるようなことをしたと思います。元気な人は可能な限り温度が等しくなるようにプラスチックパッケージを小さく削って接着するようなことまでやるようです。それでドリフトが収まらないなら、出力電圧を平滑したDC電圧をオペアンプで反転して正入力に戻してやる・・・サーボアンプにすることですかね。そこまでしないでしょう。
補足
ご意見、ありがとうございます。 初段のアンプの温度特性の差により出力電圧が変動している という御推測ですね。ご意見に従って、改めて特性がそろったトランジスタを選びなおしてパッケージを熱結合させて出力DC電圧の時間変化を観測してみます。
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お礼
なるほど! もう、458にこだわらずにhfeの高いトランジスターに交換してみます。 いろいろ、各電圧をチェックしてみましたが、DCアンプなので全体がループして繋がっておりどこが原因でドリフト しているかよくわかりません。 残念ながら質問の締め切り時期にきてしまいました。 今まで、アドバイスありがとうございました。