• 締切済み

分析方法

Sn2+イオンとSn4+イオンが混在している可能性の物質があります。 X線回折分析を行ったのですが、定量する事ができませんでした。 そこで、Sn2+イオンとSn4+イオンがどの位の割合で存在しているか調べる測定法はないでしょうか?調べたところSn2+イオンとSn4+イオンの測定ピークは重なってしまうことが多いらしいです。 もしくは、どちらか一方だけでも測定する方法はないでしょうか? (もしかしたら、混在していない可能性もあるので)

みんなの回答

  • 128yen
  • ベストアンサー率44% (107/243)
回答No.1

X線回折でやろうと思うと難しいと思います。 たとえばXPSやAESなどでSnのスペクトルをとってみれば、 化学シフトによるピーク位置のずれがあると思いますので、 2価か4価の違いは見られると思います。 あとSIMSなどでもわかると思いますが。

isoppu-1
質問者

お礼

ありがとうございます。 一度試してみます。