仕様に記載されているFlatnessの測定方法

質問

私は測定器の校正を行っていますがFlatnessの測定方法、算出方法について明確な定義がGoogle等で見つけられなかった質問します。
人によって捉え方が異なるものなのかとも思いますが皆様の意見をお聞かせください。

例えばRF ampのGain Flatness(dB)を測定する場合、仕様の周波数範囲内でGainを測定し算出しますが、MEDIAN（中央値）で表すか、周波数範囲内のaverageで表すか、または周波数範囲内のMAXとMINのaverageで表すかで測定値が異なります。Flatnessの定義として、どの算出方法が良い（正しい）のか分かりますでしょうか。宜しくお願いします。

回答No.2

ohkawa3 · ベストアンサー

webを検索してみると、仕様の周波数範囲内の最大gainと最小gainの差をflatnessと定義しているような情報がヒットします。
https://www.rfwireless-world.com/test-and-measurement/Gain-flatness-measurement.html

公的な基準の代表としてJIS C 6115-1 （pin-FETモジュール通則）を調べてみると、「既定の周波数範囲における感度の変動幅」のように定義されています。これは、上記と同様に最大感度と最小感度の差をdBで表したように受け取るここができそうです。

上記の情報は、いずれも決定的な判断基準ではなさそうです。というわけで、対象とする測定器の仕様書に、Flatnessがどのように記述されているかを基準として、校正条件を設定して、校正報告することがよさそうに思います。

対象とする測定器の仕様書は、校正を依頼した測定器の使用者が保管していると思いますので、校正のために必要な情報として、貴殿から依頼者に請求することが適切と思います。

回答No.1

kon555

測定関係で「Flatness」というと幾何公差の平面度になりますが、質問内容からすると何か違う要素についてですよね。
　おそらく測定自体のバラつきや、繰り返し精度についてだと推測しますが、いかがでしょうか。
https://www.hitachi-hightech.com/jp/products/device/semiconductor/accuracy-precision.html

　仮にそうであった場合、一般的な算出方法は無いです。良し悪しについても、使用用途などで完全に異なるため、ケースバイケースとしか言いようがありません。
　あえて言うなら、MAX–MINの範囲と中央値を併記するのがベターだとは思います。