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変流器の応答速度とは？CTを用いた測定方法について質問
- 変流器の応答速度について調査した結果、CTを用いた測定方法について質問します。具体的には、CTの応答速度について、正確な電流値を示す時間帯やCT出力の遅れについて知りたいです。
- 変流器の応答速度を測定する際に、CTを利用する方法を考えています。しかし、CTの応答速度についてどの程度正確な値が得られるのかについて疑問があります。具体的には、数サイクル間での正確な電流値の表示やCT出力の遅れについて知りたいです。
- 変流器の応答速度について調査し、CTを使用して測定する方法について質問があります。具体的には、CTの応答速度によって正確な電流値を表示できる期間や、CT出力が遅れるサイクル数について教えてください。CT以外の適切な測定方法もあれば、教えていただきたいです。
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ＣＴ，シャント抵抗どちらでも測定できる範囲ですがそれぞれの注意点をあげておきます。 １ ＣＴの場合 波形の立ち上がり時間は幾ら位でしょうか？ それによってはＣＴの周波数特性が問題になります。よく知られているように周波数特性と立ち上がり時間には以下の式があります。 立ち上がり時間＝０．３５／周波数 例として１００ＭＨｚの帯域を持った測定系は３．５ｎＳの立ち上がり時間になります。つまり観測しようとしている波形の立ち上がり時間を幾ら位と見積もられているのでしょうか？それによってＣＴの周波数帯域が見積もれます。もし、１０ＭＨｚとか１００ＭＨｚになると１ＫＡ、５ＫＡのＣＴでは無理です。周波数帯域が十分でもLonさんが指摘されているように、過大電流で磁気飽和する場合があります。これはカタログに電流・時間積（ＡｕＳ）というスペックがあるはずです。 まとめますとＣＴは周波数帯域と電流時間積に注意して選択しなければいけません。 ２ シャント抵抗の場合 シャント抵抗の場合は抵抗の周波数特性に注意するのは勿論ですが、測定系とシャント抵抗のグランドを分離しないといけません。単に波形がおかしくなるだけでなく非常に危険です。電力会社の放電試験ではシャント抵抗を使っていますが、グランド分離のためアイソレーションプローブを使っています。危険だと書いた理由はおわかり頂けると思いますが、シャント抵抗のグランドと測定系のグランド間はインピーダンス０はあり得ません。もし、０．１オーム有ったとしてグランド間に電流が流れると１００Ｖ５００Ｖの電位差になってしまいます。よくやられているのは、オシロスコープのグランドを浮かせて居ますが、上記の理由で最悪筐体に１００Ｖから５００Ｖの電圧が掛かってくるからです。 もっと詳しくお知りになりたい時は下記ページを参考にしたらよろしいかと思います。
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こんにちは。 私も皆さんがおっしゃるようにシャントを勧めます。 CTは波形ひずみも心配ですが、過渡現象の中のスパイクなどに対して飽和してしまう恐れもありますから。
お礼
回答ありがとうございます。 シャントも使って比較してみます。 結果出ましたら報告いたします。
流遮断波形というのは過渡応答の測定でしょうか。だとするとシャントを使って測定したほうが、いいとおもいます。不確定要素を除外する為に。サンプリングかメモリースコープなどでトリガー条件を上手く設定して単発で確認しましょう。
お礼
回答ありがとうございます。 過渡応答の測定になります。 メモリースコープでいろいろやってみます。
1000AのＣＴを測定した事は有りませんが１００Ａクラスなら 普通のオシロスコープで観測してそれほど波形ひずみが出たと言う記憶は有りません そのまま６０ＨｚのＳＩＮカーブでした それから推測すると少なくとも数百Ｈｚ程度の応答性は有ると思う ＣＴ以外の方法ではシャント抵抗を使う方法があります ただ一般的にはＤＣ電流測定用ですがＡＣでも測れると思う シャントなら波形ひずみは無いと思います
お礼
回答ありがとうございます。 CTでも良さそうですね。 シャントも使って比較してみます。 結果出ましたら報告いたします。
お礼
ご回答ありがとうございます。 詳細なご教示感謝いたします。（工業高校電気課卒の人間には、なにやら難しい話しになってきました） ＞波形の立ち上がり時間は幾ら位でしょうか？ 測定するのは商用周波数（６０ＨＺ）です。「立ち上がり時間＝０．３５／周波数 」との事ですので、5.8msという回答で良いでしょうか。 電圧はトランスでAC510Vに落とし、短絡電流10005000Aを流して、スイッチの電流遮断波形を測定したいのです。 ご回答では5KAのCTでは問題なさそうだなぁと判断しているのですが、如何でしょうか。この領域では「電流・時間積（ＡｕＳ）」はどの仕様値を選定すれば良いのでしょうか。 ＞測定系とシャント抵抗のグランドを分離しないといけません。 すみません。良く理解できていません。経験的に変な歪み波形しか取れないだろうなぁ、とは思います。 というのが、昔、３相遮断波形をシャント(1000A/50mV)で測定したとき、あまりにも変な波形だったのです。とある人からの助言で「疑似中性点」なる１００KΩ抵抗をY結線したものを、Y結線３相シャントと並列（だったなな？）につないで、その端子の波形が、あら不思議ときれいなサインカーブを描きました。メモリースコープはHIOKI8840 8CH－各CHグランド非共通です。 ご指摘の問題はこれと関係あるのかなぁ、全然、的はずれかなぁ、程度のぐらいの知識しかありません。 ご教示いただいたサイトもよくみて勉強してみます。 その他、お気づきの点ありましたら教えてください。