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半導体のキャリア濃度、移動度の定量化について
SiC半導体のキャリア濃度、移動度を定量化したいと考えているのですが、 どのような測定法があるのでしょうか? 自分で調べた範囲では、ホール効果測定しか見つけることができませんでした。 ホール効果以外にどのような方法があるのでしょうか? また可能でしたら測定を受託してくださる場所をお教えください。
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noname#210617
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