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※ ChatGPTを利用し、要約された質問です（原文：フラッシュメモリのサイクリングテスト）
フラッシュメモリのサイクリングテストとは？
このQ&Aのポイント
- フラッシュメモリのサイクリングテストは、半導体の測定方法の一つです。
- このテストは、フラッシュメモリが繰り返し書き込みと消去を行っても正常に機能するかを確認するために行われます。
- サイクリングテストは、フラッシュメモリの耐久性や信頼性を評価する上で重要な指標となります。
noname#230358
- 電子部品・基板部品
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noname#230359
回答No.1
一般的に半導体パッケージ組み立て後の状態で、 １つのロットからサンプルをとって、検査をするそうです 専門家ではないのですが、サイクルテストと言うのがあったような記憶が・・・・・ たとえば、耐熱試験では、データーブックに記されている最高使用温度で１２時間、最低使用温度で１２時間を１サイクルとして、これを１０サイクルとか１００サイクル繰り返す、と言うようなテストをしていたような記憶があります。
