フラッシュメモリのサイクリングテスト

質問

一般的に言われているフラッシュメモリーの半導体ですが、
半導体パッケージに組み立てた後に、「サイクリングテスト」と呼ばれる
半導体の測定があると聞いています。
このサイクリングテストとは、実際どのようなテストなのでしょうか？

回答No.1

noname#230359

一般的に半導体パッケージ組み立て後の状態で、
１つのロットからサンプルをとって、検査をするそうです
専門家ではないのですが、サイクルテストと言うのがあったような記憶が・・・・・
たとえば、耐熱試験では、データーブックに記されている最高使用温度で１２時間、最低使用温度で１２時間を１サイクルとして、これを１０サイクルとか１００サイクル繰り返す、と言うようなテストをしていたような記憶があります。