JEDECの内容について

質問

JEDECの記載内容について調べています。

JEDECでは半導体製品の試験について規格化されていますが、
それらの試験はどのような市場、使用環境条件を前提として
定められているのか知りたいのです。そのようなことについて
記載されている部分、セクションをご存知のかた、関連情報を
ご存知のかたがいましたら教えていただきますようお願いします。

回答No.2

noname#230359

問い合わせ内容と異なっていたら御免なさい。

“JEDEC 半導体”にて検索し、内容の確認をしていったら如何でしょうか？
JEDEC(Joint Electron Device Engineering Council)米国での電子部品に関する標準化団体。
標準化の対象により複数の委員会が設けられている。………からです。

また、東芝さんの製品評価法では、
製品での信頼性試験は、できるだけ市場環境に即した条件で行うことが望ましく、しかも常に
再現性があることが必要です。
このような意味から、できるだけ標準化された試験方法を選定することが望ましく、JIS規格、
JEITA規格、MIL規格、IEC規格、JEDEC規格など、半導体デバイスの標準的な試験規格に準拠
した試験を実施することが必要です。………
にて行なっているみたいです。

以上から、一般的ですが、米国の市場と使用環境条件を前提にしているのではないでしょうか？

参考URL：

http://www.semicon.toshiba.co.jp/product/reliability/device/testing/testing1/1186496_7805.html http://techon.nikkeibp.co

回答No.1

noname#230359

具体的な規格の内容を調べずに回答を書き込んでいるので、勘違いがある
かもしれませんが・・・・・・

試験方法は、さまざまな使用環境に対応できるように、フレキシブルな
規定になっているものになっていると思います。

一般的に、半導体には次のようなグレードがありますが、それぞれ信頼性を
確認している温度範囲が異なります。温度に関わる試験では、基本的な試験
方法を共通として、対応する環境に応じて、適用する温度を設定するような
ことが一般的なように思います。

　　C: コマーシャルグレード
　　I: インダストリーグレード
　　M: ミリタリーグレード
　　Q: 車載用

お調べになっているJEDECの規格番号が分かれば、もう少し具体的に回答
できるかもしれません。

JEDECは、沢山の規格を制定しています。

http://japan.renesas.com/media/products/common_info/reliability/reliability_handbook/pdf/rjj27l0001_07.pdf

お問い合わせでは、「JEDECでは、C,Iによってどのように適用温度に関し」
のように箇条を参照なさっているので、特定の規格についてお問い合わせの
ことと考えられます。

ご質問者さんにとって、JEDECは、the JEDECかもしれませんが、第三者から
みると、JEDECは、one of JEDEC standardsということになります。

お調べになっているJEDECの規格番号をお知らせ下さるようにお願いします。

機械系の分野で、何の断りもなく「JIS」というと、JIS B　0001 機械製図
を表すことがあるようです。機械系以外の分野を含め、図面による表記を
規定するJISには、JIS Z 8310 製図総則があります。製図以外のJISを含め
て全望すれば、JIS A 0001からJIS Z 9362まで、極めて多数の規格が制定さ
れています。

JEDECの制定件数は、JISより少ないでしょうが、単にJEDECと示しただけ
では、どのJEDECを表すか特定できないことになると思います。

追記で、「JEDECの規格番号」と申し上げているのは、このような意味合いと
ご理解頂けると助かります。

お礼

ご回答ありがとうございます。
漠然とした内容で分かりづらい投稿でした。（失礼しました。）

グレードは以下の2つについて調べています。　
C: コマーシャルグレード
I: インダストリーグレード

ご回答で仰っている通り、温度範囲がことなりますが、そこのところを
具体的に述べている（規定している）部分を探しています。
JEDECでは、C,Iによってどのように適用温度に関して規定しているのか？
といった内容が述べられているところです。

もしご存知であればお願いします。