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ウーファーで確認できるピーク・ディップについて
http://www.sbacoustics.com/index.php/products/woofers/8-sb23nacs45-8/ こちらのSB ACOUSTICS SB23NACS45-8というウーファーなのですが、Fsに近づくと周波数特性にピークやディップが確認できます。 この理由が知りたいと思い、質問いたしました。 もし理由をご存じの方がいらっしゃればご回答していただけると嬉しいです。
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- iBook 2001(@iBook-2001)
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はじめまして♪ ユニークな特性図ですねぇ。多くの場合、低域端はなだらかに減衰するユニットがほとんどですから。。。 40Hzくらいに大きなピーク、50Hzくらいがディップに視えますね。 憶測に過ぎませんが、測定時の箱?どうなっていたんだろぉ? という疑問が一つあります。 日本のユニットでは、JIS箱とよばれる基準箱に取り付けて、無響室において測定する。という手法が古くから利用されています。 (今では旧JIS とも言います。(JIS C 5532)これは国際規格IEC 60268-5(Type A)に格上げに成ったからです。この他にもフランスでの規格だった方式がType B として存在します。) これらの規格は、必ず守る。という物では無く、各社の独自測定方法でも良いため、得製図だけを眺めても、有る程度の傾向は掴めますが、当然、測定条件が違えば測定結果も違うので、大まかな傾向を見る、という範囲にしておくのが良いでしょう。 次に、変わった特性図になった理由として、箱の問題、測定条件の部分以外で考えられそうな点は、サスペンション系の設定で、あえてこのような特性に造り上げている、という可能性です。 全体的な共振に関しては、インピーダンス特性を眺めれば、おおよそ予想が出来ます。 しかし、比較的大きめなサラウンド(エッジ)面が、一部の周波数で逆共振を起せば、その周波数帯では振動板とサラウンド(エッジ)で相殺されたり、相互共振で増幅されたり、というう可能性は多少なりとも出てくると思います。 通常、巨大な箱や、平面バッフルによる測定であれば、かなり高めの周波数から徐々に減衰する、という特性図が得られやすいのですが、極力最低域まで大きなレスポンスを得ようとしますと、低域端側にピークを持たせ、その結果全体的な低域端のレベルを大きく確保する、という手法は昔から存在します。 (こういう傾向のユニットは、実用範囲の小さめな箱に押し込むと、少々バランスが変わって、低域に固有の強調感が出たりしやすい。でもそういうサウンドを好む人も決して少なくない、という現実も在ります。) 私達、一般人が、簡易な測定用マイクロフォンやコンピューター表示などで得られる測定では、おおよそ200Hz以下は測定している部屋の定在波等の影響が大きく成りますし、周波数測定表示のアルゴリズムなどで100Hz以下は表示誤差が大きすぎる、という場合も有る。 (デジタル解析の弱点は、1秒間に繰り返し数が少ない低域程、誤差がどんどん大きく成ってしまう、という点です、有る程度長時間のアベレージング処理をすれば、そこそこ本来の特性に近い表示も得られます。) 周波数特性図は、そのユニットの素性を知る、一つの材料ではありますが、特性図だけで音が決る訳じゃないので、実際に聴いてみて、気に入らない部分が有れば箱等の改造(チューニング)で、より目標とするサウンドに近付けて行けば良いと思います。 私個人でしたら、ちょっと変わった特性の様なので、現物を視ずに購入するには、二の足を踏むユニット、という感じでしょうかねぇ。 (リンク先の画像を見る限りは、しっかりしたユニットのように視えますが、、、、)
お礼
ご回答ありがとうございます。 ご指摘を受けて、もう一度同メーカーの測定図で似た特性を持っているものを確認してみた所、ピークやディップの位置が非常に近似している事がわかりました。 ユニット特有の問題というより、エンクロージャー含めた系全体の問題、もしくは測定方法の問題なのかもしれません。 なかなか難しいです・・・。 >サラウンドの逆共振 サラウンドの影響はあり得るのかもしれません。 考えていなかったので、調べてみようと思います。
お礼
ご回答ありがとうございます。 こんな条件で測定してたんですか・・・。 全然気づきませんでしたが、確かにIEC Baffleと書いてありました。 バッフルの影響なら納得です。