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幾何公差測定の仕方について
図面を見ると平行度、平面度、真直度、同軸度、同心度といった幾何公差がでてきます。それぞれの意味は調べて分かりましたが、実際の測定の仕方が分かりません。 所有する測定機器はマイクロメーター、ノギス、ピンゲージ、ブロックゲージ、顕微鏡(2点間、角度等測定の出来るタイプ)、デプスゲージ(ダイヤルゲージ)、表面粗さ計(接触式)です。 これらの測定機器で幾何公差の測定は可能でしょうか。
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>今は定盤の上に製品を固定してダイヤルゲージで測定し、四隅の内、3カ所を基準として他の箇所がどれだけ外れているかの値を平面度としていました。 平面度は単一平面の絶対的状態ですから、上記測定方法の最大値と最小値の差になると思います。(3カ所を基準とする必要はない) 平行度は基準になる面に対する相対的状態ですから、基準面を定盤、ブロックなどでつくる必要があると思います。 その上で、上記測定方法を行えばいいのではないかと思います。 >V字ブロックの上に製品を置き、ダイヤルゲージを当てながら製品を回せば真円度は測定できると思いますが、同軸度はどうしようかと思っています。 上記方法でダイヤルゲージを2個同時に小径と大径に当てる方法はどうですか? ハイトゲージはありますか? 小径と大径の上端位置の差で測定できないでしょうか? 測定点のデータをプロットして仮想円を(軸心)を描き、図面寸法値との差を図として認識してはどうですか?
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測定するワークの形状がわからないと回答が難しいですね。 お持ちの測定機器だけでは難しいような気がします。 基本的にワークを定盤に置いてダイヤルゲージ(デプスゲージではありません)で何点か測定すれば、平行度、平面度、真直度はある程度測定できるのではないでしょうか? また、ワークを直接測定するのではなく、そのワークに取り付ける部品(位置決めピンなど)をつけて、そちらを測定するという方法もあります。 3次元測定器などを使用しないでやろうとするのであれば、現状の測定機器の組み合わせでできるかもしません。 工夫してみて下さい。
お礼
早速ご回答いただき有り難うございました。 平面度、平行度の指示のあるものは板状のものです。 今は定盤の上に製品を固定してダイヤルゲージで測定し、四隅の内、3カ所を基準として他の箇所がどれだけ外れているかの値を平面度としていました。それが正しいのか否かが不安なのと、それでは平行度はどうすれば測定できるのかという疑問があり質問させていただいた次第です。 真直度、同軸度等は段付きの棒状のものです。 V字ブロックの上に製品を置き、ダイヤルゲージを当てながら製品を回せば真円度は測定できると思いますが、同軸度はどうしようかと思っています。
お礼
再度のご回答本当に有り難うございました。 平面度については四隅の内の3点を基準とした面を想定し、それに対して最大値、最小値を捉えるのではないかと漠然と考えていました。 平行度はワークが山型の場合ブロックゲージを載せて測定するのはどちらかに傾むいてしまい測定困難に思えます。ワーク形状が逆エビ反り状であれば分かりやすいのですが。 同軸度について詳細にご説明いただき有り難うございました。参考にさせていただきます。 有り難うございました。